utama
Instrumen dan meter
Mikroskop Leica DM1000 yang sangat sesuai dengan sistem kejuruteraan manusia
Pemakanan getaran LABORETTE 24
Mikroskop Bahan Positif Leica DM4 M & DM6 M
Pengering titik kritikal automatik Leica EM CPD300
Mikroskop terbalik Leica DMi8
Leica DCM8 Sistem pengukuran permukaan optik/gangguan konfokus cahaya putih
Equotip 550 UCI Ultrasonik Mudah Alih
MIC 20 Ultrasonik / Richter Dua Gunaan Pengatur Kekerasan Pengatur Kekerasan Gabungan
Peti ujian kakisan
Sistem Pemeriksaan Leica DM3 XL untuk Mikroelektronik dan Semikonduktor
Siri Analisis Permukaan dan Pengedaran Apertur Perbandingan Automatik Cepat (Siri NOVAe)
Operasi berjaya!