MIJ-15LAI/P Indeks kawasan daun mudah alih

Indeks kawasan daun mudah alih MIJ-15LAI / P adalah alat mudah alih yang dikeluarkan oleh syarikat EMJ Jepun, yang boleh diukur secara luas dengan membawa, menggunakan kaedah pengukuran spektral (PAR (400-700 nm) dan NIR (700-1000 nm)), hanya refleksi dan penyerapan kawasan yang mengandungi klorofil dalam daun, mengukur indeks kawasan daun melalui nisbah transmisi spektral NIR dan PAR, tidak berkaitan dengan persekitaran cahaya luar mahkota pokok, oleh itu, tidak perlu mempertimbangkan keadaan cuaca, hanya perlu ditetapkan di bawah mahkota atau daun.

Ciri-ciri utama

• Satu-satunya penggunaan di duniaPARdanNIRKekuatan danLAISensor yang berkaitan

• Pengukuran yang tepatLAI，Hanya betul.HidupPengukuran yang berkesan

• Tidak kiraAwan atau cerahTapak selesai dengan segeraLAIKerja pengukuran

• Ultra mudah alih

• TiadaPAI(Indeks kawasan tumbuhan) mengira untuk mengelakkan kesan daun kering, cabang, batang pokok

Mengukur imej

Parameter utama