Acer (Shanghai) Instrumen Teknologi Co., Ltd.
Home>Produk>Pengukur ketebalan ultrasonik Ribo Pengukur ketebalan ultrasonik paip keluli Pengukur ketebalan digital leeb332
Kumpulan Produk
Maklumat Firm
  • Aras Transaksi
    Ahli VIP
  • Kenalan
  • Telefon
    18001735070
  • Alamat
    Bilik F1171, tingkat satu, No.258 Pingyang Road, Minhang, Shanghai
Kenalan Sekarang
Pengukur ketebalan ultrasonik Ribo Pengukur ketebalan ultrasonik paip keluli Pengukur ketebalan digital leeb332
Prinsip kerja Pengukur ketebalan ultrasonik mengikut prinsip refleksi denyutan ultrasonik untuk mengukur ketebalan, apabila denyutan ultrasonik yang d
Perincian produk

Prinsip kerja

Pengukur ketebalan ultrasonik mengikut prinsip refleksi denyutan ultrasonik untuk mengukur ketebalan, apabila denyutan ultrasonik yang dilancarkan oleh probe mencapai antara muka bahan melalui objek yang diukur, denyutan itu dicerminkan kembali ke probe, dengan mengukur dengan tepat masa penyebaran gelombang ultrasonik dalam bahan untuk menentukan ketebalan bahan yang diukur.


Parameter teknikal

Nama projek

Leeb332

Kesalahan nilai

±(1% H + 0.1) mm H adalah ketebalan sebenar objek yang diukur

Julat pengukuran

0.75 ~ 350mm (keluli, ditentukan oleh probe, julat probe standard 1 ~ 250mm)

Paparkan Resolusi

0.01mm

Julat kelajuan bunyi

1000~9999m/s

Penyimpanan

Kumpulan 2000

Penggunaan persekitaran

-10 ~ 60 ℃ (bukan probe suhu tinggi) -10 ~ 300 ℃ (probe suhu tinggi)

Komunikasi PC

Mempunyai

bekalan kuasa

Bateri alkali AA 2 bahagian

Masa kerja

100 jam

Bahan-bahan shell

Rumah logam

Saiz Rupa

130*70*25 mm

berat badan

450g

Konfigurasi Standard

Host, probe L51, bateri alkali 2, penggabungan

Aksesori Pilihan

Pelbagai jenis probe, penyambung, kertas cetak


Parameter probe

Jenis Nombor Model Nama Kekerapan (MHz) Diameter probe Julat pengukuran Diameter paip kecil Penerangan Ciri
probe standard L58 5P10/90 5 10mm 0.8 ~ 200 mm (keluli) Φ20mm×3.0mm Suhu biasa (<60 ℃)
probe standard L51 5P10 5 10mm 1.0 ~ 250 mm (keluli) Φ20mm×3.0mm Suhu biasa (<60 ℃)
Probe Mikro L77 7P6 7 6mm 0.7 ~ 50 mm (keluli) Φ15mm×2.0mm Pengukuran dinding tipis dan lengkungan kecil,
Suhu biasa (<60 ℃)
Probe kristal kasar LZ2 SZ2.5P 2 22mm 2.5 ~ 350 mm (keluli) Φ20mm Pengukuran bahan kristal kasar seperti besi cor,
Suhu biasa (<60 ℃)
probe suhu tinggi LG5
5 14mm 2-100 mm (keluli) Φ30mm Boleh digunakan untuk pengukuran bahan suhu tinggi
(<300℃)


Penyelidikan dalam talian
  • Kenalan
  • Syarikat
  • Telefon
  • E- mel
  • WeChat
  • Kod Pengesahan
  • Kandungan Mesej

Operasi berjaya!

Operasi berjaya!

Operasi berjaya!